一种液晶显示屏缺陷检测方法、系统、设备和介质

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一种液晶显示屏缺陷检测方法、系统、设备和介质
申请号:CN202510223840
申请日期:2025-02-27
公开号:CN119722672A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及显示技术领域,公开了一种液晶显示屏缺陷检测方法,包括以下步骤:收集液晶显示屏的缺陷图像数据,并对其进行标注;对所述缺陷图像进行去噪、归一化和尺寸调整处理;使用多尺度卷积神经网络提取图像特征,所述特征包括局部特征和全局特征,本发明还提供一种液晶显示屏缺陷检测系统,包括:数据采集模块,用于收集液晶显示屏的缺陷图像数据;图像预处理模块,用于对所述缺陷图像进行去噪、归一化和尺寸调整。本发明通过多尺度卷积神经网络、变分推理和贝叶斯优化等技术的结合,提升了液晶显示屏缺陷检测的精度与效率,尤其在复杂背景和细微缺陷的识别中表现出色,确保了高效且准确的自动化检测。
技术关键词
液晶显示屏 推理方法 超参数 图像采集设备 分析缺陷 数据采集模块 图像去噪算法 数据处理单元 推理算法 网络 特征提取模块 尺寸 分析模块 可读存储介质 对比度
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