基于X射线衍射残余应力仪的应力检测方法

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基于X射线衍射残余应力仪的应力检测方法
申请号:CN202510227807
申请日期:2025-02-28
公开号:CN119880212A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于X射线衍射残余应力仪的应力检测方法,包括:S1:通过X射线衍射检测获取材料内部残余应力测量数据,对不同深度和方向上的应力值进行插值和平滑处理,构建连续三维应力场模型数据;S2:选用微透镜阵列作为显示装置并配置填充因子;S3:使用计算机生成全息图算法进行相位调制,通过迭代优化算法调整空间光调制器的相位分布参数;S4:在光路中设置旋转扩散片作为动态散射体,转速控制在100‑500rpm,同时采用阻抗匹配网络使IDT的电压驻波比降低至1.5以下;通过在S4中使用双层正交旋转的聚碳酸酯扩散片作为动态散射体,能够有效地打破由激光干涉形成的固定散斑图案,使得生成的三维应力场模型更加清晰和平滑。
技术关键词
应力检测方法 计算机生成全息图 三维全息显示 应力检测系统 光电检测模块 迭代优化算法 X射线发生器 阻抗匹配网络 扩散片 空间光调制器 应力场 电压驻波比 声光调制器 微透镜阵列 温度传感器阵列 全息显示系统 光电探测器阵列 应力检测装置 动态
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