一种芯片的测试方法及芯片

本申请公开了一种芯片的测试方法及芯片，芯片包括多个逻辑电路模块，各个逻辑电路模块上设置有对应的内建自测试单元，芯片还包括用于控制各个内建自测试单元的测试控制单元，芯片对应有测试程序，测试程序中具有测试指令，测试指令包括针对各个逻辑电路模块而对应设置的测试微指令和功能性微指令，测试微指令用于对相对应的逻辑电路模块进行功能测试，功能性微指令用于控制对应的逻辑电路模块进行特定操作和/或功能实现，测试方法，包括：确定各个逻辑电路模块不对功能性微指令响应的空闲期；在逻辑电路模块的空闲期内，通过相对应的内建自测试单元运行相关联的测试微指令，并获取相应的测试数据；将测试数据与存储的标准数据进行对比，以确定逻辑电路模块对应的目标测试结果。