一种光学薄膜质量检测设备

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一种光学薄膜质量检测设备
申请号:CN202510235629
申请日期:2025-02-28
公开号:CN120044034B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明涉及薄膜质量检测技术领域,公开了一种光学薄膜质量检测设备。一种光学薄膜质量检测设备,包括:卷辊机构,包括展平辊组件和收纳辊组件,所述展平辊组件向所述收纳辊组件展开并输送薄膜;检测机构,设置于所述展平辊组件和所述收纳辊组件之间,包括整体检测模块和局部检测模块;本发明结合整体检测和局部检测,通过整体检测获取薄膜缺陷位置,然后局部检测缺陷位置区域,局部检测的分析过程可离线操作,因此对光学薄膜的检测聚焦关键区域,而且可以离线精细分析,设备能够在保证检测精度的同时,提高检测效率。
技术关键词
光学薄膜 展平辊 辊组件 卷辊机构 检测设备 操作台 边缘检测算法 图像 检测机构 限位框 坐标 标记薄膜 直方图均衡化 速度 面光源 模块 安装块 判断缺陷
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