晶圆缺陷区域图像质量评估方法、装置、设备及存储介质

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晶圆缺陷区域图像质量评估方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510238255
申请日期:2025-03-03
公开号:CN120070407A
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种晶圆缺陷区域图像质量评估方法、装置、设备及存储介质。方法包括获取目标晶圆图像;对目标晶圆图像进行切分处理,得到多个待识别图像后输入当前特征提取模型中进行特征提取,以得到多个具有目标标记的目标特征图,将多个目标特征图输入当前预测模型中进行评估,以得到多个预测质量指标;基于多个预测质量指标,确定目标晶圆图像的整体质量指标;获取图像质量评估参数;基于整体质量指标以及图像质量评估参数,确定目标晶圆图像的质量评估结果。本方案可以将缺陷定位至切分后的图像块,对每个图像块单独做图像质量评估,相比于整体质量评估,可以比较好的捕捉到细微的变化和缺陷特征,提高了晶圆缺陷区域图像质量评估准确性。
技术关键词
特征提取模型 晶圆 缺陷类别 缺陷预测 图像块 电子设备 图像获取模块 可读存储介质 标记 参数 样本 评估装置 传播算法 存储器 处理器 指令 图像处理 计算机
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