用于IC载板的模块化缺陷检测方法、系统及计算机设备

本发明涉及一种用于IC载板的模块化缺陷检测方法、系统及计算机设备，其中，方法包括，获取IC载板生产过程中的原始图像数据，对原始图像数据进行预处理，得到IC载板图像数据，并构建缺陷识别模型，在缺陷识别模型中引入注意力机制，得到IC载板的识别结果；获取IC载板生产中的工艺参数数据和设备运行状态数据，与历史缺陷数据进行关联分析，挖掘数据之间的潜在关系，确定对缺陷影响较大的关键参数；构建缺陷预测模型，判断IC载板是否存在缺陷；将缺陷识别模型和缺陷预测模型的结果进行融合，结合预先设定的规则，生成对应的工艺参数调整建议或设备维护策略，以实现精准检测IC载板缺陷、预测潜在风险、优化工艺与设备维护提升产品质量和生产效率的目的。