摘要
本发明公开了一种PCIe交换开关测试装置及方法,旨在于解决现有技术测试时间长、无法全面覆盖测试场景以及测试成本高昂的不足。该装置包括根复合体设备,可执行设备枚举、存储空间分配及测试流程控制;待测PCIe交换开关的上游端口与根复合体设备连接,下游端口可扩展连接端点设备或级联其他PCIe交换开关;端点设备支持EP‑RC、EP‑EP事务路由及数据回传;PCIe接插件建立物理链路。该方法通过建立PCIe链路、分配总线号等,利用DMA功能发送测试数据,对比数据一致性,标记异常端口并重发测试事务,轮询所有端口完成测试覆盖。该装置及方法可提高测试效率,降低成本,实现多芯片并行测试及异常端口标记,适用于PCIe交换开关的板级功能测试和老炼测试。
技术关键词
开关测试装置
开关测试方法
复合体
多芯片并行测试
端点
树形拓扑结构
执行设备
链路
测试覆盖率
标记
级联
接插件
可视化界面
重传机制
拓扑网络
测试场景
多端口
数据
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