一种芯片仿真模型的测试方法及系统

本发明涉及芯片设计技术领域，尤其涉及一种芯片仿真模型的测试方法及系统。该方法包括以下步骤：获取芯片数据，并进行芯片电路逻辑分析，得到电路逻辑数据；基于电路逻辑数据进行信号传输模拟，得到信号传输数据；根据电路逻辑数据以及信号传输数据构建芯片仿真模型；对芯片仿真模型进行粒子轰击，得到粒子数据；基于粒子数据进行能量谱分类，得到质子数据以及重离子数据；根据质子数据对芯片仿真模型进行单粒子翻转故障分析，得到单粒子翻转数据；根据重离子数据对芯片仿真模型进行多粒子翻转故障分析，得到多粒子翻转故障数据。本发明基于芯片设计技术评估和优化芯片在辐射环境下的可靠性，从而提高芯片的辐射抗性。