基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法

本发明涉及芯片测试领域，具体为基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法，包括：测试电路模块、时序分析模块、扫描链模块、信号生成模块和故障定位模块，测试电路模块用于生成扫描函数并记录输出信号，时序分析模块用于对输入输出函数进行时序分析，扫描链模块用于串接测试链并生成扫描线程，信号生成模块用于计算动态功耗，故障定位模块用于测试芯片并找到故障核心，本发明避免了测试过程中的时序混乱，准确评估芯片的性能指标，保证芯片的可测性和稳定性，减少不必要的重复测试并提高测试覆盖率，降低测试所需的时间和资源成本，同时提高测试精度和准确性，确保芯片产品的质量和可靠性。