一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备

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一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备
申请号:CN202510256195
申请日期:2025-03-05
公开号:CN120371665A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本发明实施例涉及计算机通信技术领域,公开了一种MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法、系统及计算机设备,所述测量方法包括步骤:在MCU Hypervisor系统需要监控的时序事件处添加对应的时序事件监控接口;MCU Hypervisor系统在虚拟机调度过程和虚拟机通信过程中,在发生时序事件的位置处调用对应的时序事件监控接口,并输入对应的事件类型参数;通过时序事件监控接口实现时序事件日志记录,并将时序事件日志记录记录到MCU Hypervisor系统中进行缓存;对时序事件日志记录进行分析处理,以得到对应类型的事件的发生周期数据。本发明提供的MCU Hypervisor系统运行时间的测量方法,实现一次性测量全部维度的时序事件,然后再根据实际性能测量需要呈现不同维度的时序事件测量结果,使用十分灵活高效。
技术关键词
时序 测量方法 日志 事件触发模块 虚拟机间通信 计算机设备 计算机通信技术 周期 戳计数器 通信接口 参数 存储器 时间片 处理器 数据 指令 环形 数值
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