一种提高存储单元测试速度的方法及装置

本发明提供的一种提高存储单元测试速度的方法，使用多阵列使能信号对存储芯片上存储阵列解码器的输出信号进行多阵列使能操作，激活所述存储阵列解码器生成的所有的阵列地址信号，激活后的阵列地址信号送入行地址解码器解码生成行地址选择信号并输入存储阵列中；以及激活后的所述阵列地址信号进入读/写命令存储阵列地址选择模块，生成读/写阵列地址信号，所述读/写阵列地址信号送入行列址解码器解码生成列地址选择信号并输入存储阵列中；存储阵列依据输入的行地址选择信号及列地址选择信号对全部存储阵列的存储单元同时测试。本发明还提供了一种提高存储单元测试速度的装置。