一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质

AITNT
正文
推荐专利
一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质
申请号:CN202510266399
申请日期:2025-03-07
公开号:CN119758046B
公开日期:2025-06-13
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质,涉及电子器件测试技术领域,包括测试子板,所述测试子板将待测隔离芯片的引脚连接到测试底板上;所述测试底板根据隔离芯片的引脚分布规则设置了最大引脚数量,最大隔离通道数量,隔离通道方向设置为双向;所述测试底板上方连接所述测试子板,下方连接CTA8280F模拟测试机台的资源引出板。测试子板的作用是将不同型号的隔离芯片的引脚连接到测试底板。测试不同型号的隔离芯片只需要更换不同的测试子板,可以减少测试开发的难度和周期。
技术关键词
通用测试方法 PCB基板 测试机台 欧式连接器插头 芯片 子板 pogopin连接器 继电器 电子器件测试技术 通道 测试板卡 参数 电压 信号 底板 波形 电子设备 测试座 资源 可读存储介质
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种测试方法、执行器测试装置、存储介质及控制器组件
执行器测试装置 控制器组件 控制单元 测试方法 继电器
2
半导体器件、半导体结构及其制造方法
沟道结构 接触件结构 栅极结构 半导体结构 外延结构
3
一种计算机电源电路
电阻 计算机电源电路 滤波整流电路 稳压二极管 功率因数校正电路
4
对称五连杆闭链式双轮腿机器人及其运动控制方法
髋关节 电机模块 薄壁轴承 轴承固定架 电机固定架
5
一种缓存的请求融合方法及人工智能芯片
人工智能芯片技术 写入缓存存储器 融合方法 读数据 核心
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号