一种嵌入式存储芯片的质量评估方法

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种嵌入式存储芯片的质量评估方法。所述方法包括以下步骤：根据预选定的目标应用场景进行负载预测模型构建，得到负载预测模型；根据负载预测模型进行动态负载矩阵生成，得到动态负载矩阵；根据动态负载矩阵对待测存储芯片进行电气性能特征向量提取，得到电气性能特征向量；根据电气性能特征向量进行自适应测试条件调整，得到调整后负载参数；根据负载预测模型以及调整后负载参数对动态负载矩阵进行动态负载更新，得到更新动态负载矩阵；根据更新动态负载矩阵进行电气特性曲线生成，得到电气特性曲线。本发明通过动态负载、存储行为分析和热特性分析，实现了更准确、更全面、更可靠的芯片质量评估。