一种层叠式高均匀性磁场自由线磁粒子成像系统及方法

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一种层叠式高均匀性磁场自由线磁粒子成像系统及方法
申请号:CN202510272732
申请日期:2025-03-10
公开号:CN119758202B
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明属于磁粒子成像技术领域,具体涉及了一种层叠式高均匀性磁场自由线磁粒子成像系统及方法,旨在解决现有FFL‑MPI中磁场自由线不均匀的问题,以及导致成像的分辨率不均匀、有圆周伪影问题。本发明系统包括:由N组对称线圈对组成的层叠式梯度线圈单元,每组含n层直径递增的线圈,配马鞍形驱动扫描线圈及探测线圈;通过相邻两层线圈的反向电流模式,实现磁场幅值与电流方向相反,补偿磁场不均匀性,产生高均匀性FFL梯度场;控制系统精确采集与处理信号,经模数转换、放大、滤波后反馈至成像单元,通过成像算法重构成像。本发明解决磁场不均匀导致的分辨率不均与圆周伪影问题,显著提升FFL‑MPI设备成像质量。
技术关键词
粒子成像系统 梯度线圈单元 粒子成像方法 马鞍形线圈 梯度功率放大器 功率放大器模块 层叠式 输出模块 梯度磁场 数模转换 成像算法 命令 反向电流 接收信号处理单元 控制单元
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