一种集成电路芯片应力检测方法

本发明公开了一种集成电路芯片应力检测方法，依据感测元件获取的数据产生初始信号；将产生的初始信号转换成数字信息，通过模拟到数字转化器完成从模拟信号到离散数值表示的转变，根据离散数值，构建代表时间与应力变化关系的数据集；利用形成的数据集，生成直观展示应力分布动态的映射图表，对映射图表进行解析，确定图表中出现异常模式的位置，针对所划定的问题区域，启动针对性测试程序以确认实际存在异常应力情况；向监控系统输出警报信息，指示具体定位的异常应力区。本方法可以显著提升应力监测的时效性和准确性，确保在第一时间捕捉到任何威胁芯片性能的应力变化，从而保障芯片在整个生命周期内的稳定运行和可靠性。