一种基于大数据的芯片测试信号分析处理系统及方法

本发明公开了一种基于大数据的芯片测试信号分析处理系统及方法，涉及芯片测试信号分析技术领域，本发明采集芯片测试信号，通过信号预处理获取目标测试信号，设置周期窗口获取目标周期信号；基于目标周期信号进行对应周期时间点信号通道分解处理，获取对应时间点信号数据的通道特征数据；结合通道特征数据构建对应时间点信号数据的特征关联组，基于周期内各时间点处信号数据对应的特征关联组，分析对应时间点处信号的特征状态数据，并基于各时间点处信号特征状态数据进行周期内连续时间点信号状态运行稳态分析，确定芯片信号状态情况；本发明对芯片的实时运行状态特征进行有效分析并确定芯片信号的运行稳态情况，进行准确的衡量和分析。