一种OLED显示驱动芯片的老化实验方法及系统

本发明公开了一种OLED显示驱动芯片的老化实验方法，包括以下步骤：设定初始化参数；进行全面功能性自动化测试的初次测试；搭建实验系统，启动内建自测试模式；进行实验中和实验后的全面功能性自动化测试的复测；由待测芯片的内建自测试模块生成图像信息。本发明另一方面公开了一种使用该老化实验方法的系统，包括外接电源组、老化炉、老化公板、转接板和信号处理设备。本发明使用内建自测试模式取代传统的外挂定制图形发生器模式生成显示驱动芯片的待显示图像信息，可以在老化过程中实现芯片的满负荷工作，加快老化实验的完成速度，缩短实验时间、节约实验成本。