基于相位相关算法的实时相位测量轮廓术

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基于相位相关算法的实时相位测量轮廓术
申请号:CN202510283577
申请日期:2025-03-11
公开号:CN120120990A
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种三维测量中基于相位相关算法的实时相位测量轮廓术。相位测量轮廓术(PMP)使用具有相移的多个条纹图案算法获得准确和高分辨率的三维轮廓。基于相位相关算法的实时相位测量轮廓术的特征在于:首先,对变形条纹图进行调制度处理和二值化处理得到调制度分布图像;接着,以第一幅图像为模板,对第一幅图像及任意一幅图像分别进行傅里叶变换;然后,计算两幅图像的互功率谱;最后,对互功率谱进行傅里叶逆变换,得到相位相关图,相位相关图中的峰值位置即为图像的平移量(Δx,Δy),将图像平移即可完成像素匹配过程。本发明的优势在于,省去了传统方法中对整个二值化图像的遍历,减少了像素匹配的计算量;同时,在保证精度的前提下,使得像素匹配的效率和三维重建的效率有极大的提高。
技术关键词
轮廓 大津算法 正弦光栅 计算方法 像素 物体 模板 二值化图像 功率 条纹图案 反射率 投影仪 对比度 运动 光强 滤波
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