巴氏合金涂覆堆焊的薄壁层缺陷检测方法及装置

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巴氏合金涂覆堆焊的薄壁层缺陷检测方法及装置
申请号:CN202510286985
申请日期:2025-03-12
公开号:CN119804816A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,公开了一种巴氏合金涂覆堆焊的薄壁层缺陷检测方法及装置。该方法包括:通过对巴氏合金涂层进行多源检测数据采集、多重域变换和滤波增强,并获取预处理后的多源初始涂层检测数据进行界面‑组织‑缺陷映射,得到涂层内部组织结构的统一表示;对统一特征表示进行涂层深度结构的递进融合、涂层缺陷形貌与结构特征的提取,得到初步缺陷语义特征,并对初步缺陷语义特征进行缺陷形貌的特征加权计算,得到初始缺陷语义特征;对初始缺陷语义特征进行承载强度与剪切强度的计算和疲劳寿命预测,得到最终检测结果。本申请实现了对巴氏合金涂覆堆焊的薄壁层缺陷的高效精确检测。
技术关键词
缺陷检测方法 语义特征 涂层 融合特征 界面 应力分布状态 裂纹扩展速率 分层特征 疲劳寿命预测 数据 内部结构特征 表面微观形貌 涂覆 注意力 强度 衰减特征 组织 夹杂物尺寸
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