一种基于状态模型的光场图像超分辨率重建方法和装置

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一种基于状态模型的光场图像超分辨率重建方法和装置
申请号:CN202510287141
申请日期:2025-03-12
公开号:CN119809940A
公开日期:2025-04-11
类型:发明专利
摘要
一种基于状态模型的光场图像超分辨率重建方法和装置,包括:构建浅层特征提取模块,用于对输入的待重建的光场图像的子孔径图像形式提取浅层特征;利用状态空间模型构建深层特征提取单元;基于所述深层特征提取单元构建光场空角特征重建模块,用于对所述浅层特征重建光场空角特征;基于所述深层特征提取单元构建光场结构特征重建模块,用于对所述浅层特征重建光场结构特征;构建高分辨率图像重建模块,用于将所述浅层特征、所述光场空角特征和所述光场结构特征进行层次特征融合和上采样得到重建高分辨率光场图像。本发明通过利用状态空间模型的动态特性,显著提升光场图像超分辨率方法的全局空角信息表征能力和细节重建能力。
技术关键词
深层特征提取 状态空间模型 浅层特征提取 结构特征提取 图像重建 光场图像超分辨率 构建高分辨率 空间特征提取 融合特征 重建光场 特征提取单元 模块 子孔径图像 上采样 图像超分辨率重建 级联 矩阵 代表
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