芯片测试治具

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芯片测试治具
申请号:CN202510287887
申请日期:2025-03-12
公开号:CN119780682B
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片测试治具,包括PCB板、基座、转盘和压板,基座设置在PCB板上,基座上设置有安装槽、定位孔、导电接触块和第一卡扣结构,安装槽用于安装芯片,设置的安装槽方便将芯片快速且准确地安装到位,转盘和若干压板的配合,使得压板可以对不同规格的芯片进行压接,便于操作人员进行快速针对芯片更换压板并测试芯片,设置的压板沿转盘周向均匀分布,方便在测试芯片的时候切换压板,设置的弹性接触针保证了与导电接触块的可靠接触,减少了测试过程中的误差,也使得弹性接触针能够插入定位孔便于固定转盘,也便于提供到位感知,由于整个治具的高效性和通用性,可以减少对不同类型芯片测试治具的需求。
技术关键词
温度调节组件 半导体制冷片 调压装置 芯片 卡扣结构 PCB板 基座 安装槽 压力传感器 导电 压块 更换压板 过渡圆角 散热器 支架 丝杆 电机 保温层 触点
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