一种芯片、芯片测试方法及芯片测试装置

本申请涉及一种芯片、芯片测试方法及芯片测试装置。该芯片包括：切换模块，与测试连接引脚连接；第一功能模块和第二功能模块，每一功能模块均插入有测试电路；第一功能模块的测试电路分别与切换模块以及模拟信号传输引脚连接，第二功能模块的测试电路与切换模块连接；控制模块，分别与多个待测引脚以及切换模块连接；控制模块用于基于多个待测引脚的第一输入信号生成控制信号，并向切换模块发送控制信号，使得切换模块将目标对象导通至测试连接引脚并基于测试连接引脚的第二输入信号对测试连接引脚进行测试。本实施例提供的芯片，使得不同功能模块的测试电路能够基于同一个测试连接引脚进行测试。