一种便于取放的芯片测试设备

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种便于取放的芯片测试设备，包括有口字冲压头和电路转接器等。本发明的一种便于取放的独立芯片测试设备，载板上的独立芯片被传送到电路转接器下方进行测试工作，同时口字冲压头和吹送的保护气体共同形成双层保护，当出现起燃现象时，电磁铁将电路转接器第一时间向上弹起远离独立芯片，同时口字冲压头配合支撑网架将出现起燃的独立芯片从载板上向下冲压脱离，让起燃的独立芯片向下掉落到废料浸泡箱中浸泡熄灭。克服了现有技术在对载板上的多个独立芯片进行测试工作中，载板上进行测试的独立芯片出现起燃现象导致大面积的独立芯片受损被迫报废，且存在引发火灾的安全隐患的缺点。