LED环形光源测试方法、装置、设备及存储介质

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LED环形光源测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202510293731
申请日期:2025-03-13
公开号:CN119804465B
公开日期:2025-06-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种LED环形光源测试方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:对安装在角度可调支架上的LED环形光源与标准硅晶圆模拟板进行标定初始化处理,获取基准测试序列;根据基准测试序列控制LED环形光源照射标准硅晶圆模拟板,并在不同速度档位下进行多区域光场采集,获取多维度测试数据;对多维度测试数据进行特性分析,得到光场空间特性数据、光强波动频率特性数据和缺陷检出率评估结果,进而构建光场畸变模型;根据光场畸变模型计算光强均匀度偏差值和缺陷检出能力评分,并生成测试评估报告。该方法通过多区域采集和数据分析,构建光场畸变模型,能够准确评估光强分布的均匀度和缺陷检出能力。提高LED环形光源在硅晶圆高精度检测中的效果。
技术关键词
LED环形光源 缺陷检出率 光强 畸变模型 空间分布特征 测试方法 角度可调支架 数据 奇异值分解运算 多区域 参数 偏差 序列 矩阵 照明 光电探测器阵列 基准 档位 测试设备执行
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