摘要
本发明提供了一种LED环形光源测试方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:对安装在角度可调支架上的LED环形光源与标准硅晶圆模拟板进行标定初始化处理,获取基准测试序列;根据基准测试序列控制LED环形光源照射标准硅晶圆模拟板,并在不同速度档位下进行多区域光场采集,获取多维度测试数据;对多维度测试数据进行特性分析,得到光场空间特性数据、光强波动频率特性数据和缺陷检出率评估结果,进而构建光场畸变模型;根据光场畸变模型计算光强均匀度偏差值和缺陷检出能力评分,并生成测试评估报告。该方法通过多区域采集和数据分析,构建光场畸变模型,能够准确评估光强分布的均匀度和缺陷检出能力。提高LED环形光源在硅晶圆高精度检测中的效果。
技术关键词
LED环形光源
缺陷检出率
光强
畸变模型
空间分布特征
测试方法
角度可调支架
数据
奇异值分解运算
多区域
参数
偏差
序列
矩阵
照明
光电探测器阵列
基准
档位
测试设备执行
系统为您推荐了相关专利信息
时空分布特征
风险预测模型
火灾
风险预测方法
节点
图像采集模块
分析模块
控制模块
图像识别模块
手持式摄像机
数据立方体
代谢网络模型
空间分布特征
时间序列特征
预警方法