芯片低概率问题定位方法、装置、设备和存储介质

本申请涉及一种芯片低概率问题定位方法、装置、设备和存储介质，涉及芯片测试技术领域。方法包括：对问题芯片中的模拟模块进行初步测试，以确认问题芯片的低概率问题是否转为高概率问题；若问题芯片的低概率问题未转为高概率问题，则判定不是模拟模块导致的低概率问题，并对问题芯片中的数字模块进行进阶测试，以获得将问题芯片的低概率问题转为高概率问题的第一软件程序；基于第一软件程序，定位由数字模块导致问题芯片出现低概率问题的原因。采用本方法可提升芯片低概率问题的定位效率。