一种芯片测试设备

本发明公开了一种芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，能够实现芯片抓取机构的限位，避免吸头压坏芯片。一种芯片测试设备包括机架、若干测试板、芯片存放盘、芯片抓取机构以及测试治具。测试板用于对芯片性能进行测试。芯片存放盘设置在机架上。芯片存放盘用于存储待检测芯片和检测后的芯片。芯片抓取机构设置在机架上。芯片抓取机构包括支撑架、平移架、滑动座以及抓取组件。抓取组件通过气缸进行驱动。当抓取组件抓取芯片与测试板上的测试工位接触时，气缸处于最大输出行程。通过对气缸最大行程的测算，芯片抓取机构抓取芯片后的最大行程为恰好将芯片放置在测试治具的上的测试位上，能够避免气缸行程不稳定压坏测试板。