闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质

本申请实施例公开了一种闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质，应用于电子设备，所述电子设备包括闪存芯片，所述方法包括：确定所述闪存芯片的第一测试模式；获取与所述第一测试模式对应的参考测试环境参数和参考测试标准参数；确定所述闪存芯片的第一测试环境参数；确定所述参考测试环境参数与所述第一测试环境参数之间的第一偏离程度；根据所述第一偏离程度对所述参考测试标准参数进行调整，得到目标测试标准参数；根据所述目标测试标准参数和所述第一测试模式对所述闪存芯片进行测试。采用本申请实施例，可以提升闪存芯片测试智能性，进一步提升闪存芯片性能。