一种基于液晶几何相位板和深度学习的像差测量方法

AITNT
正文
推荐专利
一种基于液晶几何相位板和深度学习的像差测量方法
申请号:CN202510306457
申请日期:2025-03-14
公开号:CN120335176A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
一种基于液晶几何相位板和深度学习像差测量方法,属于光电测量技术领域。本发明将构建的计算全息图加工成为液晶几何相位板。计算全息图通过相位编码的方式对多个Lukosz像差模式进行编码。对入射光波施加多个相位偏置。对采集的光斑阵列图像进行子光斑分割提取,将所有子光斑组合成为一个具有多个通道的三维光斑图像。构建用于波前像差测量的深度学习网络模型。网络训练阶段,采用空间光调制器产生已知的像差,将三维光斑图像作为网络模型的输入特征序列。利用训练数据集对网络模型进行训练。通过液晶几何相位板进行波前调制,实现多个偏置图像的同时采集,提高图像采集效率。利用深度学习网络对光斑图像进行训练和预测,实现像差的高精度实时测量。
技术关键词
深度学习网络模型 光斑 全息图 图像 右旋圆偏振光 闪耀光栅 测量方法 相位延迟量 面阵探测器 空间光调制器 激光直写方法 模式 控制液晶分子 光学成像系统 偏振态
系统为您推荐了相关专利信息
1
Micro-LED检测设备及检测方法
LED检测设备 LED检测方法 采集器 反射镜 图像采集卡
2
一种摄像头图像信号处理方法及系统
图像信号处理方法 编码码率 视频流传输 动态码率 加密算法
3
一种基于多相机阵列的手印图像非接触式采集装置及方法
中央处理器 多相机阵列 掌纹图像 机器学习分类算法 消毒工具
4
一种基于自适应搜索网络引导的目标检测识别方法
检测识别方法 多尺度特征融合 注意力 网络 Sigmoid函数
5
基于模型优化与迁移的乡村景观风貌智能评价方法及系统
智能评价方法 多模态 两阶段 智能评价系统 评价指标体系
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号