摘要
本发明涉及集成电路设计领域,提供了一种使用变分分析和主动学习的高效自由度变化格式生成方法。该方法旨在解决当前集成电路设计中的技术问题,包括LVF表征的高成本、不确定性量化(UQ)的挑战,以及现有方法的局限性。发明的主要方案包括初始化样本集、训练代理模型、预测与评估、样本选择、更新模型,以及重复迭代的过程。此方法通过变分分析和主动学习,有效降低了生成LVF库所需的SPICE仿真次数,提高了效率。用途在于集成电路设计中的时序性能分析,尤其适用于22纳米及以下工艺单元库的时序分布表示,对芯片制造和科学社区中的不确定性传播和量化也有积极影响。
技术关键词
格式生成方法
样本
多时序协同
集成电路设计
GP模型
概率密度函数
加权方法
多层网络结构
概率分布函数
变量
度量
数据更新
非线性
精度
纳米
因子
指标
芯片
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