摘要
本发明涉TFT材料显示制作数据处理技术领域,本发明提供的一种TFT材料显示制作工艺方法,针对现有工艺中点缺陷检测不及时的问题进行了改进,通过收集包括基板、薄膜晶体管制作、彩膜制作等多方面的历史数据,利用神经网络模型训练出TFT材料显示制作工艺控制模型和点缺陷检测模型。在生产过程中,实时采集运行数据并输入点缺陷检测模型,当检测到点缺陷,立即解析结果并调整工艺参数。同时,通过遗传算法对控制模型进行优化,实现工艺参数的实时调整与反馈。本发明有效提高了生产效率和成品质量,实现了自动化缺陷检测与处理,具有显著的有益效果。
技术关键词
制作工艺方法
薄膜晶体管制作
检测模型训练
制作设备
采集运行数据
遗传算法
工艺控制参数
彩膜
基板
显示屏响应时间
滤光片
训练集
自动化缺陷检测
神经网络模型训练
光刻参数
系统为您推荐了相关专利信息
环境检测模型
环境管理方法
车内环境管理
标识
计算机可读取存储介质
异常检测方法
空间特征提取
局部空间特征
检测模型训练
网络流量数据
实时数据
仪表
应用服务器
展示设备状态
可视化界面
风电机组运行状态
检测异常状态
检测模型训练
数据
电流电压传感器