一种高速高精ADDA芯片的测试方法

本发明公开了一种高速高精ADDA芯片的测试方法，涉及芯片测试技术领域，关于硬件部分：通过在现有测试机台上进行扩展，增加PC机、待测芯片、FPGA板卡、配套测试板及高精度信号源，且约定测试机台与FPGA板卡间的通信协议，实现对不同FPGA板卡的调用，从而能对多个待测芯片进行相应测试；关于软件部分：通过在PC机中设计测试机台函数库集合、FPGA功能函数集合及VISA信号源控制函数集合，通过测试机台函数库集合，实现配套测试板上电、FPGA板卡校验及待测芯片的基本功能测试，通过FPGA功能函数集合，实现对待测芯片的高速功能测试，通过VISA信号源控制函数集合，实现对待测芯片的高精度功能测试。本发明不仅能对高速高精ADDA芯片进行功能测试，而且成本低廉，易获取。