一种芯片测试装置及方法

本申请公开了一种芯片测试装置及方法，涉及芯片测试领域，芯片测试装置包括：主控模块和信号路径切换模块，主控模块通过信号路径切换模块与被测芯片连接；主控模块用于基于目标配置文件中目标任务所需的被测芯片管脚号，控制信号路径切换模块导通被测芯片的第一通道，以通过第一通道进行目标任务处理，在目标任务切换的情况下，基于目标配置文件中切换后的目标任务所需的被测芯片管脚号，控制信号路径切换模块导通被测芯片的第二通道，以通过第二通道进行切换后的目标任务处理。本申请可以提高芯片测试效率。