一种芯片测试装置及系统

本申请公开了一种芯片测试装置及系统，涉及芯片测试领域，芯片测试装置包括：主控模块和信号路径切换模块；信号路径切换模块的受控端与主控模块连接，信号路径切换模块的输出端与被测芯片的多个管脚连接；主控模块用于控制信号路径切换模块导通终端与被测芯片下载管脚连接的通道，以使终端将测试程序下载至被测芯片；主控模块还用于控制信号路径切换模块导通主控模块与被测芯片的待测管脚连接的通道，和/或，控制信号路径切换模块导通被测芯片的待测管脚与测试设备连接的通道，以进行被测芯片的测试操作。本申请可以通过信号路径切换模块进行不同通道切换以适配不同类型芯片的测试操作，提高了测试效率。