通过积分约束拟合进行光谱图像分析

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推荐专利
通过积分约束拟合进行光谱图像分析
申请号:CN202510318855
申请日期:2025-03-18
公开号:CN120689868A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
通过积分约束拟合进行光谱图像分析。提供了通过积分约束拟合促进光谱图像分析的系统或技术。在各种实施方案中,系统可访问由科学仪器采集的样本的光谱图像,这些光谱图像的像素分别对应于能谱。在各个方面,系统可以逐像素方式将函数拟合到能谱,所述函数包括相加组合的多项,其中多项的第一项表示能谱的精细结构,并且其中与第一项相关的积分被约束为零。在各种情况下,系统可基于第一项按材料分割光谱图像。
技术关键词
计算机可执行组件 计算机程序产品 机器学习模型 计算机可读存储器 像素 图像分析 样条 多项式 显微镜 聚类 处理器 样本 代表 电子 矩形 指令
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