一种基于ABP子孔径处理和非相干叠加的CSAR自聚焦成像方法

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一种基于ABP子孔径处理和非相干叠加的CSAR自聚焦成像方法
申请号:CN202510321480
申请日期:2025-03-18
公开号:CN120178243A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种基于ABP子孔径处理和非相干叠加的CSAR自聚焦成像方法,包括:根据待成像数据生成若干个子孔径数据,并分别对所有所述子孔径数据进行粗成像,得到对应的粗成像图;分别对所有所述粗成像图进行特征提取,得到对应的投影向量;分别对所有所述投影向量进行自聚焦处理,得到对应的自聚焦成像图;根据所述自聚焦成像图,通过图像匹配和非相干叠加处理,得到所述待成像数据对应的成像图像。本发明能够提高CSAR成像的精度和效率。
技术关键词
成像方法 成像模块 数据 区域检测方法 特征提取模块 成像装置 图像匹配法 相位误差 BP算法 像素点 坐标 参数 精度
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