一种微型电脑主机老化测试方法及系统

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一种微型电脑主机老化测试方法及系统
申请号:CN202510322160
申请日期:2025-03-19
公开号:CN119847898B
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种微型电脑主机老化测试方法及系统,涉及电脑性能测试技术领域,包括连接待测设备至测试系统,进行系统待机测试,采集初始基准数据;构建老化预测模型并结合课程学习和迁移学习优化模型训练策略;基于预测结果使用AIDA64进行主机预热测试和高负载测试,同步运行Heaven Benchmark工具,测试电脑的图形处理能力。本发明结合径向基函数神经网络老化预测模型,利用课程学习和迁移学习进行模型训练,智能化分析CPU/GPU退化趋势,并结合量子随机数生成器生成随机负载模式,模拟实际应用场景中的负载波动,提高测试的真实度。此外,本发明提供BIOS优化策略实现智能化的老化预测和优化调控,从而提高微型电脑主机的长期稳定性和使用寿命。
技术关键词
微型电脑主机 老化测试方法 量子随机数生成器 负载模式 图形处理 生成随机 电脑性能测试 径向基函数神经网络 功耗 自动化测试脚本 压力测试模块 频率 老化测试系统 基准 策略 非线性 数据
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