确定芯片的工作曲线的方法、程序产品、存储介质及电子设备

本申请涉及半导体技术领域，提供一种确定芯片的工作曲线的方法、程序产品、存储介质及电子设备。其中，确定芯片的工作曲线的方法包括：通过运行针对目标芯片的测试用例，获得目标芯片在多个目标频点处对应的最小工作电压，最小工作电压为使得目标芯片能够正确执行测试用例的最低工作电压；利用多个目标频点及其对应的最小工作电压拟合目标芯片的工作曲线，工作曲线为表征频率与最小工作电压的关系的曲线。上述方法能够简单高效地确定目标芯片的工作曲线，而基于该工作曲线，任意指定一个工作频率，就能够得到目标芯片在此频率下的最小工作电压，从而为获取目标芯片在不同频率下的最小工作电压提供了极大的便利，并且该方法具有良好的通用性。