芯片波形去嵌方法、装置、电子设备、存储介质

本发明公开了一种芯片波形去嵌方法、装置、电子设备、存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：将第一LPDDR5芯片通过转接板焊接在第一测试电路板；将第二LPDDR5芯片焊接在第二测试电路；通过示波器获取第一测试电路板和第二测试电路板的第一芯片波形和第二芯片波形，并对第一芯片波形和第二芯片波形进行快速傅里叶计算，获得第一频域信号和第二频域信号；根据第一频域信号和第二频域信号，获得转接板的第一传递函数；根据第一频域信号和第一传递函数，获得第三频域信号；对第三频域信号进行逆傅里叶变换，获得LPDDR5芯片的第一测试波形。根据本发明实施例的方法，能够提升芯片波形测试的准确性。