芯片差分管脚的电压测量方法、装置、设备和存储介质

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正文
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芯片差分管脚的电压测量方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202510330905
申请日期:2025-03-19
公开号:CN120161233A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种芯片差分管脚的电压测量方法、装置、设备和存储介质,通过预先设置差模电压阈值和共模电压阈值,并采集芯片差分管脚组的差模电压与差模电压阈值的电压高低比较结果,以及差分管脚组的共模电压与共模电压阈值的电压高低比较结果,在差模电压与差模电压阈值的电压高低比较结果满足预设差模电压比较结果,且共模电压与共模电压阈值的电压高低比较结果满足预设共模电压比较结果时,将差模电压阈值确定为实际差模电压,将共模电压阈值确定为实际共模电压,从而可以根据实际差模电压和实际共模电压计算得到差分管脚组中每个差分管脚的实际电压值,实现了对芯片各差分管脚的同步电压测量,提高了电压测量结果的准确性和可靠性。
技术关键词
共模电压 电压测量方法 校验规则 计算机程序指令 待测芯片 数据 存储计算机程序 校验模块 处理器 可读存储介质 存储器 电子设备
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