一种内存颗粒测试装置及其测试方法

本发明涉及固态硬盘领域，特别是指一种内存颗粒测试装置及其测试方法，该测试装置包括底座。本发明通过驱动齿轮同时实现从动槽轮和偏心转盘的间歇转动，从而使放置盘转动，将放置盘上待测试内存颗粒转动至放置盘左侧或右侧，同时偏心转盘转动，将压块移动至放置盘左侧或右侧，并将待测试的内存颗粒向下推动与弹针接触测试，并且测试之后转动至放置盘后侧或前侧，以方便测试人员将完成测试的内存颗粒取下，同时可再次放置待测试内存颗粒。由此可见，本发明可实现在放置盘左右侧测试内存颗粒的同时，在放置盘前后完成待测试内存颗粒的取放，并且测试过程中竖直下降的水平压块可确保内存颗粒能够受力平衡，避免内存颗因受力不均而损坏或位移。