一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质

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一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510331193
申请日期:2025-03-20
公开号:CN120336169A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及计算机技术领域,尤其涉及一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质,用于满足日益增长的测试需求,提升接口测试覆盖度,并提高测试结果的准确度。该方法包括:基于测试需求和接口测试样例,生成测试用例,并执行测试用例,获得当前次的当前执行结果;基于当前执行结果与预期结果,确定当前执行匹配分数,并比较当前执行匹配分数和预期匹配分数,确定当前执行结果的断言结果,断言结果表征:测试用例在当前次执行时,执行是否通过;基于当前执行结果的断言结果和测试用例的多个历史执行结果的断言结果,更新预期匹配分数或更新测试用例。
技术关键词
生成测试用例 接口测试方法 梯度下降算法 样本 接口测试装置 变量 执行测试用例 电子设备 参数 处理器 语义 可读存储介质 存储器 模块 计算机 程序
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