一种PID性能评估方法

本发明提供一种PID性能评估方法，包括：挑选PID芯片样品，选择承载装置；准备检测工具，所述检测工具包括芯片运行系统调节工具、材质强度检测工具、材料形状检测工具、材料绝缘性检测工具、内部信号传输检测工具、芯片运行状态记录工具、载体运行状态监测工具与抗压环境制造室；检测芯片材质性能和芯片使用效果；对步骤三的检测结果进行集中处理，基于多维空间向量变换和信息熵理论构建评估模型，根据所述评估模型对各数据进行结合对比与计算，得出评估结果；本发明通过构建基于多维空间向量变换和信息熵理论的评估模型、引入机器学习算法优化结果以及全面的检测流程，能够有效解决上述现有技术中的问题，实现对PID芯片性能更精准、更全面的评估。