一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统

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一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统
申请号:CN202510332273
申请日期:2025-03-20
公开号:CN119850626B
公开日期:2025-05-30
类型:发明专利
摘要
本发明属于工业模块领域,提供一种磷铜球生产抛光检测模型构建方法及系统,包括步骤采集抛光桶顶部的光学图像及光谱图像;对光学图像与光谱图像进行空间对齐,确定磷铜球在光谱图像中的第一位置,计算磷铜球在光学图像中对应的第二位置;基于圆度阈值判断磷铜球的几何完整性;对所述第二位置的磷铜球采用灰度共生矩阵分析方法计算磷铜球表面的粗糙度指标,以评估抛光是否均匀;采用亮度直方图分析方法计算磷铜球的光洁度均匀性,判断其是否满足抛光标准;当所述磷铜球的光洁度低于预设阈值时,调整抛光参数并继续抛光,否则停止抛光并输出检测结果。
技术关键词
磷铜球 亮度直方图 检测模型构建方法 灰度共生矩阵 分析方法 高光谱相机 粗糙度 模型构建系统 抛光桶 短波红外 图像 工业相机 相机外参 模块 拟合算法
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