一种晶圆分类方法及装置、电子设备、存储介质

本发明实施例公开一种晶圆分类方法及装置、电子设备、存储介质，涉及集成电路技术领域，能够在提高晶圆分类准确性的同时，有效提高晶圆分类的时效性。所述方法包括：获取待分类晶圆的第一测试数据，所述第一测试数据包括晶圆允收测试的测试数据；根据所述待分类晶圆的所述第一测试数据以及晶圆分类模型，确定所述待分类晶圆所属的晶圆类别；其中，所述晶圆分类模型包括晶圆类别与晶圆测试数据之间的对应关系，所述晶圆测试数据包括晶圆的所述第一测试数据及第二测试数据，所述第二测试数据包括晶圆中的各晶粒封装后的测试数据。本发明适用于芯片生产和测试中。