一种基于metal dummy blockage减小metal dummy对时序影响的方法

本发明的目的是提供一种基于metal dummy blockage减小metal dummy对时序影响的方法，该方法包括：获取芯片参数和金属密度要求；根据所述芯片参数和所述金属密度要求进行金属填充；验证填充后的芯片是否符合规范。本发明通过用dummy blockage，避免在这些地方加metal dummy，来避免metal dummy对这些走线的影响，不改变这些路径的时序，可减少时序收敛的迭代次数，让时序收敛更可控。