一种芯片的器件目标值的确定方法、装置、电子设备及存储介质

本申请的实施例公开了一种芯片的器件目标值的确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片设计技术领域，能够有效提高对芯片的器件目标值的评估精确性。所述方法包括：确定目标芯片组中各芯片的预估功耗；根据所述目标芯片组中各芯片的预估功耗，以及所述目标芯片组中各芯片的静态漏电流的测试值，确定所述目标芯片组中各芯片的目标静态漏电流；选取所述目标芯片组的待优化器件参数；根据所述目标静态漏电流，确定所述待优化器件参数的参考值，并将所述待优化器件参数的参考值作为所述目标芯片组的器件目标值。本发明适用于芯片设计与生产场景。