一种AMR磁阻全范围角度测量方法及其系统

本发明属于半导体芯片技术领域，涉及一种AMR磁阻全范围角度测量方法及其系统，包括：设置AMR各向异性磁阻器对磁场进行旋转角度检测；设置垂直霍尔传感器感应磁场；对AMR各向异性磁阻器的输出进行多级的角度计算，得到角度计算后的旋转角度；结合角度计算后的旋转角度和垂直霍尔传感器的输出结果测量当前的旋转角度；获取上一次测量的旋转角度对当前测量角度进行校准，得到最终的角度值；本发明融合了AMR磁阻的高分辨率特性与垂直霍尔传感器的区间判断优势，能够在全角度范围内，实现高分辨率精度的角度检测；本发明的CORDIC算法仅使用二级的角度计算就将角度收敛到±10.305°，提高了计算效率，减小了资源量的消耗。