一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备

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一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备
申请号:CN202510340873
申请日期:2025-03-21
公开号:CN119850636B
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备,涉及图像处理领域。方法包括:获取显示面板所显示的初始图像;对初始图像进行离散余弦变换处理,以提取低频背景成分;基于奇异值分解算法对低频背景成分进行去噪处理,得到主要背景特征;通过多项式曲面拟合算法对主要背景特征进行拟合重构,得到背景重构图像;对背景重构图像进行对比度增强处理,得对背景增强图像;从初始图像中减去背景增强图像,得到差值图像;根据差值图像,确定MURA缺陷待测区域;通过预设的MURA缺陷检测模型对MURA缺陷待测区域进行识别处理,得到显示面板的MURA缺陷检测结果。通过上面的技术方案,本发明可以提高MURA缺陷检测精度。
技术关键词
多项式 图像 重构 缺陷检测方法 奇异值分解算法 变换算法 像素 计算机程序代码 对比度 电子设备 离散余弦 计算机程序产品 指数 空间金字塔池化 加权损失函数 代表 曲面 损失函数优化 动态 区分缺陷
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