一种基于非支配排序的对抗样本参数选择方法及系统

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一种基于非支配排序的对抗样本参数选择方法及系统
申请号:CN202510343545
申请日期:2025-03-21
公开号:CN120279286A
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于非支配排序的对抗样本参数选择方法及系统,属于智能优化算法和图像处理领域。本发明具体步骤包括:初始化种群、计算目标函数值、非支配排序、拥挤度计算、进化操作、精英保留、终止判断以及CFAR检测器筛选。本发明能够快速收敛到Pareto前沿,有效探索参数空间,避免陷入局部最优,并输出一组Pareto最优解,用户可根据实际需求选择最优参数组合。通过CFAR检测器筛选出能够被检测出明显生成对抗攻击时的临界参数,进一步提高了对抗样本的隐蔽性和攻击效果。
技术关键词
CFAR检测器 样本 参数 生成对抗图像 检测器模块 因子 智能优化算法 分层 矩阵 图像处理 网络 数据 关系 策略 动态
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