故障概率计算、预测方法、装置、电子设备及存储介质

本发明提供了一种故障概率计算、预测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及故障检测的技术领域，故障概率计算方法包括：获取目标工作数据，计算第一基尼不纯度，从第一基尼不纯度选定第二基尼不纯度，基于所述第二基尼不纯度从所述多个工作参数中选定目标工作参数；基于所述目标工作参数，确定所述目标时间戳对应的故障概率。通过本申请缓解了现有技术中故障预测模型的鲁棒性和故障预测的准确性低的技术问题。